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名称：Tecnai F30场发射高分辨透射电子显微镜
型号：Tecnai G2 F30 S-TWIN
制造厂家：美国FEI公司
主要附件：
Gatan电子能量过滤系统（GIF）
EDAX X－射线能谱仪
STEM-HAADF高角环形暗场探头
Gatan894Ultriscan相机
Gatan994Ultriscan相机
Lorentz 电磁透镜
主要技术指标：
加速电压：300KV 电子枪：肖特基场发射电子枪
分辨率: 点分辨率：0.205 nm 线分辨率：0.102 nm
信息分辨率：0.14nm HR STEM分辨率：0.16nm
EELS分辨率：0.65eV EDX分辨率：136eV
放大倍数: TEM 模式 60X—1000KX
HAADF STEM模式 200X—100M
Tecnai G2 F30 是一个真正多功能，多用户环境的先进仪器。它将各种透射电镜技术(包括TEM、HRTEM、STEM、HRSTEM、电子衍射、EFTEM、EDX、EELS和Lorentz透镜等)一体化，形成强大的分析功能。除了具有200kV的各种优点外，Tecnai G2 F30提供了300kV的加速电压，可分析更厚、更具挑战性的样品。Tecnai G2 F30可以在原子尺度的分辨率下对材料进行高质量、高稳定性的显微形貌、晶体结构和相组织的观察与分析，及各种材料微区化学成分的定性和定量检测。
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